Omron GigE Vision Line Scan FS-B8KU7DCLU-M72

Cameră Omron GigE Vision Line Scan FS-B8KU7DCLU-M72

Camera Omron GigE Vision Line Scan FS-B8KU7DCLU-M72 este un dispozitiv de scanare în linie de înaltă performanță, conceput pentru aplicații industriale care necesită captarea rapidă și precisă a imaginilor în mișcare. Cu o rezoluție de 8K, această cameră monocromă utilizează un senzor CMOS AWAIBA DR-B&W-2x8K-7 și oferă o rată de scanare impresionantă de 80 kHz. Montura M72 și capacitatea de actualizare pe teren fac din acest produs o soluție flexibilă și robustă pentru diverse industrii.

Caracteristici Principale:

• Rezoluție: 8K
• Tip Senzor: CMOS AWAIBA DR-B&W-2x8K-7
• Dimensiune Pixel: 7 µm
• Rată de Scanare: 80 kHz
• Montură: M72
• Capacitate de Actualizare pe Teren: Permite îmbunătățirea și actualizarea funcționalităților direct pe teren

Beneficii:

1. Calitate Superioară a Imaginilor: Rezoluția de 8K și senzorul CMOS oferă detalii extrem de clare și precise, esențiale pentru inspecții critice.
2. Performanță Ridicată: Rata de scanare de 80 kHz permite captarea rapidă și precisă a imaginilor în mișcare.
3. Flexibilitate și Versatilitate: Montura M72 și capacitatea de actualizare pe teren asigură adaptabilitate la diverse aplicații și nevoi industriale.
4. Durabilitate și Fiabilitate: Construcția robustă și componentele de înaltă calitate asigură o durată lungă de viață și funcționare fiabilă în medii industriale.
5. Compatibilitate Avansată: Funcționalitatea GigE Vision 2.1 și suportul pentru Protocolul de Timp de Precizie (Precision Time Protocol) asigură integrarea ușoară în sistemele existente.

Domenii de Utilizare:

• Inspecție Industrială: Ideal pentru verificarea produselor și identificarea defectelor în timpul proceselor de fabricație.
• Controlul Calității: Asigură că toate produsele respectă standardele de calitate înainte de a părăsi linia de producție.
• Automatizare Industrială: Utilizat în sisteme de automatizare pentru monitorizarea continuă și precisă a proceselor.
• Aplicații de Vizualizare Tehnică: Perfect pentru capturarea detaliilor fine în aplicații de cercetare și dezvoltare.